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Fischerscope X-ray XDL 220

Fischerscope X-ray XDL 220

簡要描述:
Fischerscope X-ray XDL 220,XDLM測量系統經常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni,Au/PdNi/Ni,Ag/Ni或Sn/ Ni鍍層的厚度。通常功能區都是很小的結構如或突起,測量這些區域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時,就要使用開槽的準直器以獲得zui大的信號強度。

更新時間:2024-03-19

訪問量:142

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,生物產業,石油,制藥,綜合

Fischerscope X-ray XDL 220

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL220特點

  • 堅固耐用的鍍層厚度測量設備,甚至可在較大的距離測量(DCM功能,范圍0-80 mm)工作

  • 固定光圈和固定濾光鏡

  • 用于1mm起大小的測量點

  • 底部C型開槽的大容量測量艙

  • 可編程的臺式設備,用于自動測量

  • 標準X射線管,比例計數器

德國菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE XDL220典型應用領域

  • 無錫駿展儀器菲希爾X射線測厚儀測量大規模生產的電鍍零件

  • 無錫駿展儀器菲希爾X射線測厚儀防腐鍍層和裝飾性鍍層,如鎳/銅上的鉻

  • 無錫駿展儀器菲希爾X射線測厚儀電鍍工業中電鍍液的分析

  • 黃金、珠寶和鐘表工業

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