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Fischerscope X-RAY XAN250/252

Fischerscope X-RAY XAN250/252

簡要描述:
Fischerscope X-RAY XAN250/252,高性能X射線熒光測量儀,配有非常先進的硅漂移探測器(SDD),可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。

更新時間:2024-03-19

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廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,制藥,綜合

Fischerscope X-RAY XAN250/252

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀特點:

  1. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器高性能機型,具有強大的綜合測量能力

  2. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器配有4 個電動調節的準直器和6個電動調節的基本慮片

  3. 菲希爾X射線測厚儀Fischerscope X-RAY XAN250無錫駿展儀器配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),還適用于更復雜的多元素分析

  4. 由下至上的測量方向,可以非常簡便地實現樣品定位

FISCHERSCOPE XAN 250 X射線熒光測量儀典型應用領域:

  1. 對電子和半導體行業中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量

  2. 對有害物質進行痕量分析,例如,玩具中的鉛含量

  3. 在珠寶和手表業,以及在金屬精煉領域,對合金進行高精度的分析

  4. 用于高校研究和工業研發領域

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