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美國激光干涉儀

美國激光干涉儀

簡要描述:
美國激光干涉儀,API激光干涉儀,與傳統干涉儀相比,XD激光干涉儀可以更加快速、準確地測量機床的定位和軸向數據,迅速完成整機的性能評估,停機時間可減少80%。

更新時間:2022-05-07

訪問量:1628

廠商性質:經銷商

生產地址:

品牌TeledyneAPI/美國價格區間面議
產地類別進口應用領域環保,化工,石油,能源,電子

美國激光干涉儀

美國激光干涉儀

API激光干涉儀多軸加工中心的校準
XD Laser激光干涉儀,一次安裝可測得六個參數(包括x、y、z、俯仰角、偏擺角、滾動角),可實現對多軸加工中心的精準測量與評估。
API激光干涉儀快速測量
與傳統干涉儀相比,XD激光干涉儀可以更加快速、準確地測量機床的定位和軸向數據,迅速完成整機的性能評估,停機時間可減少80%。
API激光干涉儀實時分析
API激光干涉儀軟件系統可對XD激光干涉儀采集的數據進行實時分析處理并生成測量報告。
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API激光干涉儀

激光干涉儀
在氦氖激光器上,加上一個約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應和頻率牽引效應, 激光器產生1和2兩個不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經1/4波片后成為兩個互相垂直的線偏振光,再經分光鏡分為兩路。一路經偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經偏振分光鏡后又分為兩路:一路成為僅含有f1的光束,另一路成為僅含有f2的光束。當可動反射鏡移動時,含有f2的光束經可動反射鏡反射后成為含有f2 ±Δf的光束,Δf是可動反射鏡移動時因多普勒效應產生的附加頻率,正負號表示移動方向(多普勒效應是奧地利人C.J.多普勒提出的,即波的頻率在波源或接受器運動時會產生變化)。這路光束和由固定反射鏡反射回來僅含有f1的光的光束經偏振片2后會合成為f1-(f2±Δf)的測量光束。測量光束和上述參考光束經各自的光電轉換元件、放大器、整形器后進入減法器相減,輸出成為僅含有±Δf的電脈沖信號。經可逆計數器計數后,由電子計算機進行當量換算(乘 1/2激光波長)后即可得出可動反射鏡的位移量。雙頻激光干涉儀是應用頻率變化來測量位移的,這種位移信息載于f1和f2的頻差上,對由光強變化引起的直流電平變化不敏感,所以抗干擾能力強。它常用于檢定測長機、三坐標測量機、光刻機和加工中心等的坐標精度,也可用作測長機、高精度三坐標測量機等的測量系統。利用相應附件,還可進行高精度直線度測量、平面度測量和小角度測量。

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